Электронная микроскопия
- Трансмиссионная электронная микроскопия
- основной метод электронной микроскопии, основанный на изучении ультратонкого среза образца в пучках электронов, излучаемых электронной пушкой в условиях высокого напряжения (40-100Кв) и глубокого вакуума;
- фокусировка осуществляется электронными линзами, играющими роль конденсора, объектива и проектора;
- изображение формируется на флюоресцирующем экране и регистрируется в цифровом формате;
- максимальное увеличение для срезов ткани – до 150 000 раз, разрешающая способность – 1-2 нм.
- Сканирующая электронная микроскопия микроскопия
- метод электронной микроскопии, основанный на сканировании поверхности изучаемого объекта электронным пучком:
- вторичные электроны, рассеиваемые или излучаемые поверхностью объекта фиксируются детектором и формируют трехмерное изображение на дисплее микроскопа;
- максимальное увеличение – до 20 000 раз, разрешающая способность – 3-10 нм;
- применяется для изучения поверхности биологических объектов